Abstract
Рассмотрены особенности межэлектродн ого Si-Moпереноса газов в гелии из расплава чистого кремния. По результата м опыта при слабом токе обосновано удаление ионов молекулярных соединений газо в с кремнием из многослойного поверхностного слоя расплава. Оценены состав и количество этих соединений. Определено окончание очистки расплава кремния от газов.
Translated title of the contribution | Degassing the molten pure silicon in helium at low electrode current |
---|---|
Original language | Russian |
Pages (from-to) | 75-80 |
Number of pages | 6 |
Journal | Расплавы |
Issue number | 1 |
Publication status | Published - 2015 |
GRNTI
- 31.00.00 CHEMISTRY
Level of Research Output
- VAK List