ПОЛЕВАЯ ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ГРАНИЧНОЙ ОБЛАСТИ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИНТЕРФЕЙСОВ

Resultado de la investigación: Article

Resumen

На основании результатов, полученных методом полевой ионной микроскопии, проведен анализ атомного строения граничной области металлических интерфейсов после интенсивных внешних воздействий. В результате изучения атомного строения планарных дефектов в металлических материалах после радиационного и других видов внешних воздействий методами полевой ионной микроскопии, атомного зонда полевого ионного микроскопа и томографического атомного зонда установлена различная ширина их граничной области. Показано, что ширина граничной области металлических интерфейсов изменяется в зависимости от типа интенсивного внешнего воздействия и составляет 0.8-1.5 nm. Приведены экспериментальные данные об элементном составе межфазных интерфейсов (Cu80Co20) в металлически сплавленных компаундах и легированных сплавах (Cu3Au (4 at.% Pt)).
Idioma originalRussian
Páginas (desde-hasta)43-51
PublicaciónПисьма в Журнал технической физики
Volumen41
N.º16
EstadoPublished - 2015

GRNTI

  • 29.00.00 PHYSICS

Level of Research Output

  • VAK List

Citar esto