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• Self-trapping of the d-d charge transfer exciton in bulk NiO evidenced by X-ray excited luminescence

  Sokolov, V. I., Pustovarov, V. A., Churmanov, V. N., Ivanov, V. Y., Gruzdev, N. B., Sokolov, P. S., Baranov, A. N. & Moskvin, A. S., jul 2012, En : JETP Letters. 95, 10, p. 528-533 6 p.

  Resultado de la investigación: Article

  • charge transfer
  • excitons
  • trapping
  • luminescence
  • x rays
  4 Citas (Scopus)