Bi-doped silica glass: A combined XPS – DFT study of electronic structure and pleomorphic imperfections

Resultado de la investigación: Articlerevisión exhaustiva

5 Citas (Scopus)
Idioma originalEnglish
Número de artículo154459
Número de páginas8
PublicaciónJournal of Alloys and Compounds
Volumen829
DOI
EstadoPublished - 15 jul 2020

ASJC Scopus subject areas

  • Mechanics of Materials
  • Mechanical Engineering
  • Metals and Alloys
  • Materials Chemistry

WoS ResearchAreas Categories

  • Chemistry, Physical
  • Materials Science, Multidisciplinary
  • Metallurgy & Metallurgical Engineering

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Bi-doped silica glass: A combined XPS – DFT study of electronic structure and pleomorphic imperfections'. En conjunto forman una huella única.

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