Defect probing using positron annihilation and dielectric spectroscopy of PVA/Al thin films

S. A. Abdelsalam, O. M. Hemeda, T. Sharshar, A. M.A. Henaish, M. M. Ali

Resultado de la investigación: Articlerevisión exhaustiva

1 Cita (Scopus)
Idioma originalEnglish
Número de artículo132738
PublicaciónJournal of Molecular Structure
Volumen1259
DOI
EstadoPublished - 5 jul. 2022

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