Electronic transport features of MoTe2caused by quenching

V. V. Marchenkov, A. N. Domozhirova, S. V. Naumov, S. M. Podgornykh, V. V. Chistyakov, P. S. Korenistov, J. C.A. Huang

Resultado de la investigación: Conference articlerevisión exhaustiva

Idioma originalEnglish
Número de artículo012144
PublicaciónJournal of Physics: Conference Series
Volumen1695
N.º1
DOI
EstadoPublished - 28 dic 2020
Evento7th International School and Conference "SaintPetersburg OPEN 2020" on Optoelectronics, Photonics, Engineering and Nanostructures - Saint Petersburg, Russian Federation
Duración: 27 abr 202030 abr 2020

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  • Physics and Astronomy(all)

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Electronic transport features of MoTe<sub>2</sub>caused by quenching'. En conjunto forman una huella única.

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