Interfacial reactions in Al2O3/Cr2O3 layers: Electronic structure calculations and X-ray photoelectron spectra

Resultado de la investigación: Articlerevisión exhaustiva

2 Citas (Scopus)
Idioma originalEnglish
Páginas (desde-hasta)6-8
Número de páginas3
PublicaciónThin Solid Films
Volumen665
DOI
EstadoPublished - 1 nov 2018

ASJC Scopus subject areas

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Metals and Alloys
  • Materials Chemistry
  • Surfaces, Coatings and Films
  • Surfaces and Interfaces

WoS ResearchAreas Categories

  • Materials Science, Coatings & Films
  • Materials Science, Multidisciplinary
  • Physics, Condensed Matter
  • Physics, Applied

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Interfacial reactions in Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/Cr<sub>2</sub>O<sub>3</sub> layers: Electronic structure calculations and X-ray photoelectron spectra'. En conjunto forman una huella única.

Citar esto