Local electronic transport across probe/ionic conductor interface in scanning probe microscopy

Resultado de la investigación: Article

Idioma originalEnglish
Número de artículo113147
Número de páginas13
PublicaciónUltramicroscopy
Volumen220
DOI
EstadoPublished - ene 2021

ASJC Scopus subject areas

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Instrumentation
  • Atomic and Molecular Physics, and Optics

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Local electronic transport across probe/ionic conductor interface in scanning probe microscopy'. En conjunto forman una huella única.

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