Microstructures in thin Bi2Te3 films according to transmission electron microscopy

Resultado de la investigación: Conference contributionrevisión exhaustiva

Idioma originalEnglish
Título de la publicación alojadaVII International Young Researchers'' Conference - Physics, Technology, Innovations, PTI 2020
EditoresVladimir A. Volkovich, Ilya V. Kashin, Andrey A. Smirnov, Evgeniy D. Narkhov
EditorialAmerican Institute of Physics Inc.
ISBN (versión digital)9780735440531
DOI
EstadoPublished - 9 dic 2020
Evento7th International Young Researchers'' Conference on Physics, Technology, Innovations, PTI 2020 - Ekaterinburg, Russian Federation
Duración: 18 may 202022 may 2020

Serie de la publicación

NombreAIP Conference Proceedings
Volumen2313
ISSN (versión impresa)0094-243X
ISSN (versión digital)1551-7616

Conference

Conference7th International Young Researchers'' Conference on Physics, Technology, Innovations, PTI 2020
PaísRussian Federation
CiudadEkaterinburg
Período18/05/202022/05/2020

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy(all)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Microstructures in thin Bi<sub>2</sub>Te<sub>3</sub> films according to transmission electron microscopy'. En conjunto forman una huella única.

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