Kelvin force and Raman microscopies of flat SiGe structures with different compositions grown on Si(111) at high temperatures

A. A. Shklyaev, L. Bolotov, V. Poborchii, T. Tada, K. N. Romanyuk

Resultado de pesquisa: Article

2 Citações (Scopus)
Idioma originalEnglish
Páginas (de-até)107-114
Número de páginas8
RevistaMaterials Science in Semiconductor Processing
Volume83
DOIs
Estado da publicaçãoPublished - 15 ago 2018

ASJC Scopus subject areas

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