Юшков, Антон Александрович

  • Куйбышева, 48а

    620000 Екатеринбург

    Российская Федерация

  • 7 Цитирования
  • 1 h-индекс
20132019

Результат исследований по году

Если Вы внесли какие-либо изменения в Pure, они скоро будут видимы здесь.

Результат исследований

  • 7 Цитирования
  • 1 h-индекс
  • 5 Материалы конференции
  • 4 Статья
Фильтр
Материалы конференции
2019

Electron microscopy of microstructure formed in a rapidly quenched Sm8Zr2Fe110Ti010 magnetic alloy

Kolosov, V. Y., Yushkov, A. A., Andreev, S. V., Kudrevatykh, N. V., Kuznetsov, D. K. & Neznakhin, D. S., 6 дек 2019, Physics, Technologies and Innovation, PTI 2019: Proceedings of the VI International Young Researchers Conference. Volkovich, V. A., Zvonarev, S. V., Kashin, I. V., Smirnov, A. A. & Narkhov, E. D. (ред.). American Institute of Physics Inc., 020268. (AIP Conference Proceedings; том 2174).

Результат исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы конференции

Synthesis and microstructure of thin amorphous films of the Ag-Sn-Sb-S system

Melnikova, N. V., Kolosov, V. Y., Zarubin, V. Y., Yushkov, A. A., Novoselov, E. S. & Pryakhina, V. I., 6 дек 2019, Physics, Technologies and Innovation, PTI 2019: Proceedings of the VI International Young Researchers� Conference. Volkovich, V. A., Zvonarev, S. V., Kashin, I. V., Smirnov, A. A. & Narkhov, E. D. (ред.). American Institute of Physics Inc., 020040. (AIP Conference Proceedings; том 2174).

Результат исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы конференции

2018

Recrystallization and investigation of bismuth thin films by means of electron beam in transmission electron microscope

Kolosov, V. Y., Yushkov, A. A. & Veretennikov, L. M., 27 ноя 2018, В : Journal of Physics: Conference Series. 1115, 3, 032087.

Результат исследований: Вклад в журналМатериалы конференции

Structural investigation of magnetron sputtered Ta/NixMn100-x/Ta thin films

Moskalev, M. E., Lepalovskij, V. N., Yushkov, A. A., Kolosov, V. Y. & Vas'Kovskiy, V. O., 25 сен 2018, Physics, Technologies and Innovation, PTI 2018: Proceedings of the V International Young Researchers' Conference. American Institute of Physics Inc., Том 2015. 020062

Результат исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы конференции

Thin bismuth film study by means of transmission electron microscopy

Kolosov, V. Y., Yushkov, A. A. & Bokuniaeva, A. O., 25 сен 2018, Physics, Technologies and Innovation, PTI 2018: Proceedings of the V International Young Researchers' Conference. American Institute of Physics Inc., Том 2015. 020042

Результат исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы конференции