Если Вы внесли какие-либо изменения в Pure, они скоро будут видимы здесь.

Личный профиль

Образование/академическая квалификация

Физико-математические науки, кандидат наук

Отпечаток Отпечаток основан на индексе взвешенных терминов, извлеченных из научных документов, и определяет ключевые темы исследователя.

  • 9 Похожие профили
Microscopic examination Технические дисциплины и материаловедение
Graphite Химические соединения
microscopy Физика и астрономия
Graphene Технические дисциплины и материаловедение
Electric fields Технические дисциплины и материаловедение
graphene Физика и астрономия
Microcrystals Технические дисциплины и материаловедение
drying Физика и астрономия

Сеть Недавняя внешняя коллаборация на уровне стран. Углубитесь в детали нажатием на точки.

Проекты 2013 2018

  • 1 Завершено
  • 1 Активный

Центр по разработке и исследованию функциональных наноматериалов для применений в электронике и биомедицине

Шур, В. Я., Аликин, Д. О., Артёмов, М. Ю., Ахматханов, А. Р., Батурин, И. С., Важенин, В. А., Васильев, С. Г., Горлов, А. Д., Есин, А. А., Зеленовский, П. С., Кособоков, М. С., Кузнецов, Д. К., Лобов, А. И., Мингалиев, Е. А., Небогатиков, М. С., Нерадовский, М. М., Пелегов, Д. В., Пелегова, Е. В., Васильева, Д. С., Потапов, А. П., Пряхина, В. И., Румянцев, Е. Л., Турыгин, А. П., Удалов, А. Р., Холкин, А. Л., Чезганов, Д. С., Ушаков, А. Д., Неустроев, А. Г., Иевлев, А. В., Фокин, А. В., Груверман, А. Л., Романюк, К. Н., Васькина, Е. М., Гимадеева, Л. В., Слаутин, Б. Н., Аликин, Ю. М., Карпов, В. Р., Никитин, Т. Я., Нерадовская, Е. А., Тюрнина, А. Е., Шур, А. Г., Майорова, Я. А., Зубарев, И. В., Анкудинов, А. В., Власов, Е. О., Южаков, В. В., Грешняков, Е. Д., Чувакова, М. А., Шишкина, Е. В., Норбобоев, Б. Г., Ху, Ц., Линкер, Э. А. & Нураева, А. С.

02/12/2013 → …

Проект: ИсследованиеКЦП

Результат исследований 2015 2019

  • 130 Цитирования
  • 6 h-индекс
  • 14 Статья
  • 1 Материалы конференции

Effect of ferroelectric domains on electric properties of single layer graphene

Zelenovskii, P., Romanyuk, K., Vidyasagar, R., Akhmatkhanov, A., Zhao, P., Shur, V. Y. & Kholkin, A. L., 4 апр 2019, В : Ferroelectrics. 542, 1, стр. 93-101 9 стр.

Результат исследований: Вклад в журналСтатьяНаучно-исследовательскаярецензирование

Graphite
Graphene
Ferroelectric materials
graphene
Electric properties
2 Цитирования (Scopus)

Nanoplasmonic response of porous Au-TiO2 thin films prepared by oblique angle deposition

Rodrigues, M. S., Borges, J., Proenca, M., Pedrosa, P., Martin, N., Romanyuk, K., Kholkin, A. L. & Vaz, F., 19 мар 2019, В : Nanotechnology. 30, 22, 11 стр., 225701.

Результат исследований: Вклад в журналСтатьяНаучно-исследовательскаярецензирование

6 Цитирования (Scopus)

Diphenylalanine-Based Microribbons for Piezoelectric Applications via Inkjet Printing

Safaryan, S., Slabov, V., Kopyl, S., Romanyuk, K., Bdikin, I., Vasilev, S., Zelenovskiy, P., Shur, V. Y., Uslamin, E. A., Pidko, E. A., Vinogradov, A. V. & Kholkin, A. L., 28 мар 2018, В : ACS Applied Materials and Interfaces. 10, 12, стр. 10543-10551 9 стр.

Результат исследований: Вклад в журналСтатьяНаучно-исследовательскаярецензирование

Peptides
Printing
Ink
Microcrystals
Piezoelectricity
1 цитирование (Scopus)

Kelvin force and Raman microscopies of flat SiGe structures with different compositions grown on Si(111) at high temperatures

Shklyaev, A. A., Bolotov, L., Poborchii, V., Tada, T. & Romanyuk, K. N., 15 авг 2018, В : Materials Science in Semiconductor Processing. 83, стр. 107-114 8 стр.

Результат исследований: Вклад в журналСтатьяНаучно-исследовательскаярецензирование

Microscopic examination
microscopy
Chemical analysis
Heterojunctions
spatial resolution
4 Цитирования (Scopus)

Quantitative characterization of the ionic mobility and concentration in Li-battery cathodes via low frequency electrochemical strain microscopy

Alikin, D. O., Romanyuk, K. N., Slautin, B. N., Rosato, D., Shur, V. Y. & Kholkin, A. L., 7 фев 2018, В : Nanoscale. 10, 5, стр. 2503-2511 9 стр.

Результат исследований: Вклад в журналСтатьяНаучно-исследовательскаярецензирование

Microscopic examination
Cathodes
Ions
Degradation
Electric fields