Аннотация

Метод дифракции обратно-рассеянных электронов (EBSD) широко используется для исследования кристаллографических ориентационных соотношений в структурных составляющих стали, в том числе в бейните. Тем не менее тонкую структуру бейнита (субпластины и пластины, составляющие пакет) данным методом не исследуют. Предложена методика визуализации строения приповерхностного слоя конструкционной стали с бейнитной структурой с использованием углов Эйлера, полученных методом дифракции обратно-рассеянных электронов. На примере стали 25Г2С2Н2МА получена трехмерная картина субструктуры бейнита, которая удовлетворительно согласуется с данными, полученными методом атомной силовой микроскопии.
Переведенное названиеVisualization of the Fine Structure of the Bainite Near-surface Layer on the Basis of the EBSD Data
Язык оригиналаРусский
Страницы (с-по)49-52
Число страниц4
ЖурналСталь
Номер выпуска3
СостояниеОпубликовано - 2019

ГРНТИ

  • 53.00.00 МЕТАЛЛУРГИЯ

Уровень публикации

  • Перечень ВАК

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «ВИЗУАЛИЗАЦИЯ ТОНКОГО СТРОЕНИЯ ПРИПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ БЕЙНИТА ПО ДАННЫМ EBSD». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать