Виртуальный прибор для измерения удельных характеристик электрического сопротивления наноструктурированных материалов 4-х зондовым методом с пространственным разрешением («VI 4Zond»): свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ

Результат исследований: Патент

Аннотация

Программа предназначена для выполнения автоматизированных измерений удельных характеристик электрического сопротивления материалов с использованием модульных приборов компании National Instruments (источника питания PXI-413X или РХ1е-41ХХ и мультиметра PXI-407X) и микрозондовой станции. Программа позволяет измерять удельное сопротивление полубесконечных и поверхностное сопротивление тонкопленочных образцов при расположении зондов в линию и по сторонам квадрата на их поверхности с микромасштабным пространственным разрешением. Программа осуществляет управление используемыми измерительными приборами, контролирует задаваемое и текущее значения тока и напряжения на зондах, выполняет визуализацию и сохраняет экспериментальные данные в виде универсального текстового файла для дальнейшей обработки. Программа может быть использована для проведения научных исследований электрофизических параметров нанострукутр и в учебных целях при организации лабораторного практикума по инженерно-техническим дисциплинам.
Язык оригиналаРусский
Номер патента2015662129
Дата подачи заявки17/11/2015
СостояниеОпубликовано - 20 дек 2015

Цитировать