Аннотация
Описаны меры толщины электропроводящих покрытий на электропроводящем основании, для которых нормируются не только геометрические, но и электрофизические параметры, такие как удельная электрическая проводимость и комплексная относительная магнитная проницаемость основания меры, удельная электрическая проводимость покрытия меры. Описаны методика и способ измерения удельной электрической проводимости основания меры по методу ван дер Пау, комплексной относительной магнитной проницаемости металла на кольцевых образцах с применением пермеаметра, методика передачи значения этого параметра основанию меры произвольной формы с плоской поверхностью, а также методика и способ измерения удельной электрической проводимости материала покрытия меры с применением вихретокового преобразователя с волнообразной обмоткой возбуждения.
Язык оригинала | Русский |
---|---|
Страницы (с-по) | 25-36 |
Число страниц | 12 |
Журнал | Дефектоскопия |
Номер выпуска | 10 |
DOI | |
Состояние | Опубликовано - 2018 |
ГРНТИ
- 81.00.00 ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА
Уровень публикации
- Перечень ВАК