ИЗМЕРЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ МЕР ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ

В. А. Сясько; С. С. Голубев; Яков Гаврилович Смородинский; А. И. Потапов; П. В. Соломенчук; Н. И. Смирнова

doi:10.1134/S0130308218100044

ИЗМЕРЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ МЕР ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ

В. А. Сясько, С. С. Голубев, Яков Гаврилович Смородинский, А. И. Потапов, П. В. Соломенчук, Н. И. Смирнова

Результат исследований: Вклад в журнал › Статья › рецензирование

Аннотация

Описаны меры толщины электропроводящих покрытий на электропроводящем основании, для которых нормируются не только геометрические, но и электрофизические параметры, такие как удельная электрическая проводимость и комплексная относительная магнитная проницаемость основания меры, удельная электрическая проводимость покрытия меры. Описаны методика и способ измерения удельной электрической проводимости основания меры по методу ван дер Пау, комплексной относительной магнитной проницаемости металла на кольцевых образцах с применением пермеаметра, методика передачи значения этого параметра основанию меры произвольной формы с плоской поверхностью, а также методика и способ измерения удельной электрической проводимости материала покрытия меры с применением вихретокового преобразователя с волнообразной обмоткой возбуждения.

Язык оригинала	Русский
Страницы (с-по)	25-36
Число страниц	12
Журнал	Дефектоскопия
Номер выпуска	10
DOI	https://doi.org/10.1134/S0130308218100044
Состояние	Опубликовано - 2018

ГРНТИ

81.00.00 ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА

Уровень публикации

Перечень ВАК

Ссылки

10.1134/S0130308218100044

Другие файлы и ссылки

https://elibrary.ru/item.asp?id=36368679

Цитировать

Сясько, В. А., Голубев, С. С., Смородинский, Я. Г., Потапов, А. И., Соломенчук, П. В., & Смирнова, Н. И. (2018). ИЗМЕРЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ МЕР ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ. Дефектоскопия, (10), 25-36. https://doi.org/10.1134/S0130308218100044

Сясько, В. А. ; Голубев, С. С. ; Смородинский, Яков Гаврилович ; Потапов, А. И. ; Соломенчук, П. В. ; Смирнова, Н. И. / ИЗМЕРЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ МЕР ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ. В: Дефектоскопия. 2018 ; № 10. стр. 25-36.

@article{4e3a5aab740646fca97f2ebad2a187c4,

title = "ИЗМЕРЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ МЕР ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ",

abstract = "Описаны меры толщины электропроводящих покрытий на электропроводящем основании, для которых нормируются не только геометрические, но и электрофизические параметры, такие как удельная электрическая проводимость и комплексная относительная магнитная проницаемость основания меры, удельная электрическая проводимость покрытия меры. Описаны методика и способ измерения удельной электрической проводимости основания меры по методу ван дер Пау, комплексной относительной магнитной проницаемости металла на кольцевых образцах с применением пермеаметра, методика передачи значения этого параметра основанию меры произвольной формы с плоской поверхностью, а также методика и способ измерения удельной электрической проводимости материала покрытия меры с применением вихретокового преобразователя с волнообразной обмоткой возбуждения.",

author = "Сясько, {В. А.} and Голубев, {С. С.} and Смородинский, {Яков Гаврилович} and Потапов, {А. И.} and Соломенчук, {П. В.} and Смирнова, {Н. И.}",

year = "2018",

doi = "10.1134/S0130308218100044",

language = "Русский",

pages = "25--36",

journal = "Дефектоскопия",

issn = "0130-3082",

publisher = "Издательство {"}Наука{"}",

number = "10",

}

Сясько, ВА, Голубев, СС, Смородинский, ЯГ, Потапов, АИ, Соломенчук, ПВ & Смирнова, НИ 2018, 'ИЗМЕРЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ МЕР ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ', Дефектоскопия, № 10, стр. 25-36. https://doi.org/10.1134/S0130308218100044

ИЗМЕРЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ МЕР ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ. / Сясько, В. А.; Голубев, С. С.; Смородинский, Яков Гаврилович; Потапов, А. И.; Соломенчук, П. В.; Смирнова, Н. И.

В: Дефектоскопия, № 10, 2018, стр. 25-36.

Результат исследований: Вклад в журнал › Статья › рецензирование

TY - JOUR

T1 - ИЗМЕРЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ МЕР ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ

AU - Сясько, В. А.

AU - Голубев, С. С.

AU - Смородинский, Яков Гаврилович

AU - Потапов, А. И.

AU - Соломенчук, П. В.

AU - Смирнова, Н. И.

PY - 2018

Y1 - 2018

N2 - Описаны меры толщины электропроводящих покрытий на электропроводящем основании, для которых нормируются не только геометрические, но и электрофизические параметры, такие как удельная электрическая проводимость и комплексная относительная магнитная проницаемость основания меры, удельная электрическая проводимость покрытия меры. Описаны методика и способ измерения удельной электрической проводимости основания меры по методу ван дер Пау, комплексной относительной магнитной проницаемости металла на кольцевых образцах с применением пермеаметра, методика передачи значения этого параметра основанию меры произвольной формы с плоской поверхностью, а также методика и способ измерения удельной электрической проводимости материала покрытия меры с применением вихретокового преобразователя с волнообразной обмоткой возбуждения.

AB - Описаны меры толщины электропроводящих покрытий на электропроводящем основании, для которых нормируются не только геометрические, но и электрофизические параметры, такие как удельная электрическая проводимость и комплексная относительная магнитная проницаемость основания меры, удельная электрическая проводимость покрытия меры. Описаны методика и способ измерения удельной электрической проводимости основания меры по методу ван дер Пау, комплексной относительной магнитной проницаемости металла на кольцевых образцах с применением пермеаметра, методика передачи значения этого параметра основанию меры произвольной формы с плоской поверхностью, а также методика и способ измерения удельной электрической проводимости материала покрытия меры с применением вихретокового преобразователя с волнообразной обмоткой возбуждения.

UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=36368679

U2 - 10.1134/S0130308218100044

DO - 10.1134/S0130308218100044

M3 - Статья

SP - 25

EP - 36

JO - Дефектоскопия

JF - Дефектоскопия

SN - 0130-3082

IS - 10

ER -