TY - PAT
T1 - Инструментально-программный методический комплекс «Функциональные и конструкционные наноматериалы» («FCN»)
T2 - свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ
AU - Звонарев, Сергей Владимирович
AU - Штанг, Татьяна Владимировна
AU - Кортов, Всеволод Семенович
AU - Петров, Александр Юрьевич
PY - 2015/11/20
Y1 - 2015/11/20
N2 - Программный комплекс (ПК) предназначен для расчета параметров структуры и свойств наноструктурированных материалов, включая толщину напыленного слоя, размер частиц, величину пор, химический состав, твердость, модуль Юнга и др. ПК состоит из основной программы и 4-х модулей: «Расчет параметров напыления проводящего слоя»; «Параметры материала после облучения электронами»; «Анализ химического состава материалов»; «Расчет механических свойств конструкционных наноматериалов». В основу ПК положена физическая модель, учитывающая изменение характеристик наноматериала при варьировании размера его составляющих. ПК позволяет проводить оценку необходимой толщины напыления проводящих материалов, выполнять анализ параметров структуры поверхности образца и анализировать ее изменение при влиянии метода исследования, а также количественно оценивать механические свойства наноструктур.
AB - Программный комплекс (ПК) предназначен для расчета параметров структуры и свойств наноструктурированных материалов, включая толщину напыленного слоя, размер частиц, величину пор, химический состав, твердость, модуль Юнга и др. ПК состоит из основной программы и 4-х модулей: «Расчет параметров напыления проводящего слоя»; «Параметры материала после облучения электронами»; «Анализ химического состава материалов»; «Расчет механических свойств конструкционных наноматериалов». В основу ПК положена физическая модель, учитывающая изменение характеристик наноматериала при варьировании размера его составляющих. ПК позволяет проводить оценку необходимой толщины напыления проводящих материалов, выполнять анализ параметров структуры поверхности образца и анализировать ее изменение при влиянии метода исследования, а также количественно оценивать механические свойства наноструктур.
UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=39338955
M3 - Патент
M1 - 2015661579
Y2 - 2015/10/30
PB - Федеральный институт промышленной собственности
ER -