ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ ДЕФЕКТОВ F-ТИПА И ИХ ТЕРМИЧЕСКАЯ СТАБИЛЬНОСТЬ В САПФИРЕ, ОБЛУЧЕННОМ ИМПУЛЬСНЫМИ ИОННЫМИ ПУЧКАМИ

Дарья Владимировна Ананченко, Сергей Владимирович Никифоров, Г. Р. Рамазанова, Р. И. Баталов, Р. М. Баязитов, Г. А. Новиков

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

Аннотация

Исследована люминесценция и термическая стабильность дефектов, образующихся в монокристаллах alpha-Al2O3 после импульсной обработки пучком ионов C+/H+ с энергией 300 keV и длительностью импульса 80 ns. По результатам измерения оптического поглощения, фотолюминесценции и импульсной катодолюминесценции обнаружено, что такой тип воздействия приводит к интенсивной генерации в alpha-Al2O3 как одиночных F- и F+-центров, так и более сложных дефектов (агрегатных центров F2-типа или вакансионно-примесных комплексов). Термическая стабильность дефектов F-типа, образуемых в alpha-Al2O3 при воздействии импульсным ионным пучком, сравнима со стабильностью радиационно-индуцированных дефектов в нейтронно-облученных образцах. Ключевые слова: сапфир, люминесценция, ионное облучение, радиационно-индуцированные дефекты.
Переведенное названиеLuminescence and thermal stability of F-type defects in sapphire irradiated with pulsed ion beams
Язык оригиналаРусский
Страницы (с-по)211-217
Число страниц7
ЖурналОптика и спектроскопия
Том128
Номер выпуска2
DOI
СостояниеОпубликовано - 2020

ГРНТИ

  • 29.00.00 ФИЗИКА

Уровень публикации

  • Перечень ВАК

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ ДЕФЕКТОВ F-ТИПА И ИХ ТЕРМИЧЕСКАЯ СТАБИЛЬНОСТЬ В САПФИРЕ, ОБЛУЧЕННОМ ИМПУЛЬСНЫМИ ИОННЫМИ ПУЧКАМИ». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать