TY - PAT
T1 - «Программа для моделирования спектров комбинационного рассеяния наночастиц и тонких пленок (NanoPhonon)»
T2 - свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ
AU - Кузнецова, Юлия Алексеевна
AU - Зацепин, Анатолий Федорович
AU - Волков, Юрий Вячеславович
PY - 2018/11/15
Y1 - 2018/11/15
N2 - Программа предназначена для моделирования спектров комбинационного рассеяния наночастиц и тонких пленок. Методики расчета, используемые в данной программе, позволяют на основе известной дисперсионной зависимости собственных колебаний решетки определить ширину спектральных линий комбинационного рассеяния как функцию размера частиц или толщины пленки. Данная программа позволяет решать и обратную задачу: определение размера и типа дисперсии в наноструктурах по известным спектральным параметрам линий комбинационного рассеяния (положение максимума, ширина пика на полувысоте). Программа может быть использован как в учебных целях (для проведения лабораторных работ студентов по дисциплинам «Физика конденсированного состояния» и «Функциональные материалы микро- и наноэлектроники»), так и в научно-исследовательских (количественный анализ экспериментальных результатов).
AB - Программа предназначена для моделирования спектров комбинационного рассеяния наночастиц и тонких пленок. Методики расчета, используемые в данной программе, позволяют на основе известной дисперсионной зависимости собственных колебаний решетки определить ширину спектральных линий комбинационного рассеяния как функцию размера частиц или толщины пленки. Данная программа позволяет решать и обратную задачу: определение размера и типа дисперсии в наноструктурах по известным спектральным параметрам линий комбинационного рассеяния (положение максимума, ширина пика на полувысоте). Программа может быть использован как в учебных целях (для проведения лабораторных работ студентов по дисциплинам «Физика конденсированного состояния» и «Функциональные материалы микро- и наноэлектроники»), так и в научно-исследовательских (количественный анализ экспериментальных результатов).
UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=39305410
M3 - Патент
M1 - 2018664380
Y2 - 2018/10/29
PB - Федеральный институт промышленной собственности
ER -