Аннотация
На образцах многослойной пленочной структуры Cu / [FeNi / Cu]10, полученных методом ионно-плазменного распыления, проведен сравнительный анализ петель магнитного гистерезиса, измеренных на вибрационном магнитометре, магнитоизмерительном комплексе с первичным преобразователем на основе СКВИДа (СКВИД-магнитометр) и магнитооптическом Керр-микроскопе. Использование СКВИД-магнитометра позволило обнаружить ступенчатый характер перемагничивания пленочной структуры, наличие которого было подтверждено наблюдениями на Керр-микроскопе в квазистатическом режиме перемагничивания.
Переведенное название | Magnetization processes in multilayered permalloy films |
---|---|
Язык оригинала | Русский |
Страницы (с-по) | 3-8 |
Число страниц | 5 |
Журнал | Материаловедение |
Номер выпуска | 11 |
DOI | |
Состояние | Опубликовано - 2019 |
ГРНТИ
- 29.00.00 ФИЗИКА
Уровень публикации
- Перечень ВАК