Аннотация

На образцах многослойной пленочной структуры Cu / [FeNi / Cu]10, полученных методом ионно-плазменного распыления, проведен сравнительный анализ петель магнитного гистерезиса, измеренных на вибрационном магнитометре, магнитоизмерительном комплексе с первичным преобразователем на основе СКВИДа (СКВИД-магнитометр) и магнитооптическом Керр-микроскопе. Использование СКВИД-магнитометра позволило обнаружить ступенчатый характер перемагничивания пленочной структуры, наличие которого было подтверждено наблюдениями на Керр-микроскопе в квазистатическом режиме перемагничивания.
Переведенное названиеMagnetization processes in multilayered permalloy films
Язык оригиналаРусский
Страницы (с-по)3-8
Число страниц5
ЖурналМатериаловедение
Номер выпуска11
DOI
СостояниеОпубликовано - 2019

ГРНТИ

  • 29.00.00 ФИЗИКА

Уровень публикации

  • Перечень ВАК

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «ПРОЦЕССЫ ПЕРЕМАГНИЧИВАНИЯ В МНОГОСЛОЙНЫХ ПЛЕНОЧНЫХ СТРУКТУРАХ НА ОСНОВЕ ПЕРМАЛЛОЯ». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать