Analysis of the microstructural evolution of silicon nitride irradiated with swift Xe ions

Arno Janse van Vuuren, A. D. Ibrayeva, V. A. Skuratov, M. V. Zdorovets

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)7155-7160
Число страниц6
ЖурналCeramics International
Том46
Номер выпуска6
DOI
СостояниеОпубликовано - 15 апр 2020

    Fingerprint

Предметные области ASJC Scopus

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Ceramics and Composites
  • Process Chemistry and Technology
  • Surfaces, Coatings and Films
  • Materials Chemistry

Цитировать