Analysis of the structure of thin amorphizing layers of the Fe-Si-Cu-Mg-O system

N. N. Nikul'chenkov, A. B. Loginov, S. V. Danilov, B. A. Loginov

Результат исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы конференциирецензирование

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииMechanics, Resource and Diagnostics of Materials and Structures, MRDMS 2020
Подзаголовок основной публикацииProceeding of the 14th International Conference on Mechanics, Resource and Diagnostics of Materials and Structures
РедакторыEduard Gorkunov, Victor E. Panin, Hans Irschik
ИздательAmerican Institute of Physics Inc.
Число страниц4
ISBN (электронное издание)9780735440579
DOI
СостояниеОпубликовано - 17 дек. 2020
Событие14th International Conference on Mechanics, Resource and Diagnostics of Materials and Structures, MRDMS 2020 - Ekaterinburg, Российская Федерация
Продолжительность: 9 нояб. 202013 нояб. 2020

Серия публикаций

НазваниеAIP Conference Proceedings
Том2315
ISSN (печатное издание)0094-243X
ISSN (электронное издание)1551-7616

Конференция

Конференция14th International Conference on Mechanics, Resource and Diagnostics of Materials and Structures, MRDMS 2020
Страна/TерриторияРоссийская Федерация
ГородEkaterinburg
Период09/11/202013/11/2020

Предметные области ASJC Scopus

  • Physics and Astronomy(all)

Предметные области WoS

  • Материаловедение, Характеристики и тестирование
  • Физика, Прикладная

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Analysis of the structure of thin amorphizing layers of the Fe-Si-Cu-Mg-O system». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать