Application of semiconductor laser emitters to thickness measurements

Результат исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы конференции

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииProceedings - International Conference Laser Optics 2020, ICLO 2020
ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (электронное издание)9781728152332
DOI
СостояниеОпубликовано - 2 ноя 2020
Событие2020 International Conference Laser Optics, ICLO 2020 - St. Petersburg, Российская Федерация
Продолжительность: 2 ноя 20206 ноя 2020

Серия публикаций

НазваниеProceedings - International Conference Laser Optics 2020, ICLO 2020

Конференция

Конференция2020 International Conference Laser Optics, ICLO 2020
СтранаРоссийская Федерация
ГородSt. Petersburg
Период02/11/202006/11/2020

Предметные области ASJC Scopus

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Atomic and Molecular Physics, and Optics

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Application of semiconductor laser emitters to thickness measurements». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать