Charge Transport Mechanism and Trap Origin in Methyl-Terminated Organosilicate Glass Low-κ Dielectrics

Timofey V. Perevalov, Andrei A. Gismatulin, Andrei E. Dolbak, Vladimir A. Gritsenko, Elena S. Trofimova, Vladimir A. Pustovarov, Dmitry S. Seregin, Konstantin A. Vorotilov, Mikhail R. Baklanov

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

1 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Номер статьи2000654
Число страниц7
ЖурналPhysica Status Solidi (A) Applications and Materials Science
Том218
Номер выпуска4
DOI
СостояниеОпубликовано - фев 2021

Предметные области ASJC Scopus

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Condensed Matter Physics
  • Materials Chemistry
  • Surfaces, Coatings and Films
  • Electrical and Electronic Engineering
  • Surfaces and Interfaces

Предметные области WoS

  • Материаловедение, Междисциплинарные труды
  • Физика, Конденсированных сред
  • Физика, Прикладная

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Charge Transport Mechanism and Trap Origin in Methyl-Terminated Organosilicate Glass Low-κ Dielectrics». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать