Copper nanostructures into pores of SiO2/Si template: Galvanic displacement, chemical and structural characterization

D. V. Yakimchuk, S. A. Khubezhov, V. D. Bundyukova, A. L. Kozlovskiy, M. V. Zdorovets, D. I. Shlimas, D. I. Tishkevich, E. Yu Kaniukov

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

5 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Номер статьи105058
Число страниц7
ЖурналMaterials Research Express
Том6
Номер выпуска10
DOI
СостояниеОпубликовано - 28 авг 2019

Предметные области ASJC Scopus

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Metals and Alloys
  • Surfaces, Coatings and Films
  • Polymers and Plastics
  • Biomaterials

Предметные области WoS

  • Материаловедение, Междисциплинарные труды

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Copper nanostructures into pores of SiO<sub>2</sub>/Si template: Galvanic displacement, chemical and structural characterization». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать