Depth profiles of aggregate centers and nanodefects in LiF crystals irradiated with 34 MeV 84Kr, 56 MeV 40Ar and 12 MeV 12C ions

A. Dauletbekova, V. Skuratov, N. Kirilkin, I. Manika, J. Maniks, R. Zabels, A. Akilbekov, A. Volkov, M. Baizhumanov, M. Zdorovets, А Seitbayev

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

3 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)16-21
Число страниц6
ЖурналSurface and Coatings Technology
Том355
DOI
СостояниеОпубликовано - 15 дек 2018

Предметные области ASJC Scopus

  • Condensed Matter Physics
  • Materials Chemistry
  • Surfaces, Coatings and Films
  • Chemistry(all)
  • Surfaces and Interfaces

Предметные области WoS

  • Материаловедение, Покрытия и пленки
  • Физика, Прикладная

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Depth profiles of aggregate centers and nanodefects in LiF crystals irradiated with 34 MeV <sup>84</sup>Kr, 56 MeV <sup>40</sup>Ar and 12 MeV <sup>12</sup>C ions». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать