Electron microscopic imaging of an ion beam mixed SiO 2/Si interface correlated with photo- and cathodoluminescence

H. J. Fitting, L. Fitting Kourkoutis, B. Schmidt, B. Liedke, E. V. Ivanova, M. V. Zamoryanskaya, V. A. Pustovarov, A. F. Zatsepin

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

6 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)1101-1108
Число страниц8
ЖурналPhysica Status Solidi (A) Applications and Materials Science
Том209
Номер выпуска6
DOI
СостояниеОпубликовано - июн 2012

Предметные области ASJC Scopus

  • Electrical and Electronic Engineering
  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Materials Chemistry
  • Condensed Matter Physics
  • Surfaces and Interfaces
  • Surfaces, Coatings and Films

Предметные области WoS

  • Материаловедение, Междисциплинарные труды
  • Физика, Прикладная
  • Физика, Конденсированных сред

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Electron microscopic imaging of an ion beam mixed SiO 2/Si interface correlated with photo- and cathodoluminescence». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать