Electron microscopic imaging of an ion beam mixed SiO 2/Si interface correlated with photo- and cathodoluminescence

H. J. Fitting, L. Fitting Kourkoutis, B. Schmidt, B. Liedke, E. V. Ivanova, M. V. Zamoryanskaya, V. A. Pustovarov, A. F. Zatsepin

Результат исследований: Вклад в журналСтатьярецензирование

6 Цитирования (Scopus)

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Electron microscopic imaging of an ion beam mixed SiO 2/Si interface correlated with photo- and cathodoluminescence». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Технические дисциплины и материаловедение

Физика и астрономия

Химические соединения