ELECTRON STRUCTURE OF SILICON DIOXIDE IN A CLUSTER APPROXIMATION

L. B. Cherlov, S. P. Freidman, A. F. Zatsepin, V. S. Kortov, V. A. Gubanov

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)315-319
Число страниц5
ЖурналThe Soviet Journal of Glass Physics and Chemistry
Том11
Номер выпуска5
СостояниеОпубликовано - 1 сен 1985

Предметные области ASJC Scopus

  • Engineering(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «ELECTRON STRUCTURE OF SILICON DIOXIDE IN A CLUSTER APPROXIMATION». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать