Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films

Damir R. Islamov, Vladimir A. Gritsenko, Timofey V. Perevalov, Vladimir A. Pustovarov, Oleg M. Orlov, Anna G. Chernikova, Andrey M. Markeev, Stefan Slesazeck, Uwe Schroeder, Thomas Mikolajick, Gennadiy Ya Krasnikov

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

18 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)47-55
Число страниц9
ЖурналActa Materialia
Том166
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 мар 2019

Предметные области ASJC Scopus

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Ceramics and Composites
  • Polymers and Plastics
  • Metals and Alloys

Предметные области WoS

  • Материаловедение, Междисциплинарные труды
  • Металловедение и Металлургия

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf<sub>0.5</sub>Zr<sub>0.5</sub>O<sub>2</sub>-based ferroelectric thin films». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать