Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films

Damir R. Islamov; Vladimir A. Gritsenko; Timofey V. Perevalov; Vladimir A. Pustovarov; Oleg M. Orlov; Anna G. Chernikova; Andrey M. Markeev; Stefan Slesazeck; Uwe Schroeder; Thomas Mikolajick; Gennadiy Ya Krasnikov

doi:10.1016/j.actamat.2018.12.008

Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf_0.5Zr_0.5O₂-based ferroelectric thin films

Damir R. Islamov, Vladimir A. Gritsenko, Timofey V. Perevalov, Vladimir A. Pustovarov, Oleg M. Orlov, Anna G. Chernikova, Andrey M. Markeev, Stefan Slesazeck, Uwe Schroeder, Thomas Mikolajick, Gennadiy Ya Krasnikov

Результат исследований: Вклад в журнал › Статья

18 Цитирования (Scopus)

Язык оригинала	Английский
Страницы (с-по)	47-55
Число страниц	9
Журнал	Acta Materialia
Том	166
DOI	https://doi.org/10.1016/j.actamat.2018.12.008
Состояние	Опубликовано - 1 мар 2019

Предметные области ASJC Scopus

Electronic, Optical and Magnetic Materials
Ceramics and Composites
Polymers and Plastics
Metals and Alloys

Предметные области WoS

Материаловедение, Междисциплинарные труды
Металловедение и Металлургия

Ссылки

10.1016/j.actamat.2018.12.008

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

1 Активно

Радиационные и ядерные технологии
Иванов, В. Ю., Бажукова, И. Н., Пустоваров, В. А., Огородников, И. Н., Якушев, М. В., Кузнецова, Т. В., Ивановских, К. В., Гудков, В. В., Игнатьев, О. В., Ищенко, А. В., Жуковский, М. В., Соковнин, С. Ю., Мильман, И. И., Бажуков, С. И., Оштрах, М. И., Семенкин, В. А., Зырянов, С. С., Патраков, Э. В., Сарычев, М. Н., Громыко, М. В., Мостафа, М. Ю. А., Баранова, А. А., Аленькина, И. В., Набиуллина, А. С., Кокорин, А. Ф., Ши, Ц., Шульгин, Б. В., Петров, В. Л., Черепанов, А. Н., Сюрдо, А. И., Зуев, М. Г., Рябухин, О. В., Мамытбеков, Ж., Васянович, М. Е., Путрик, М. Б., Петров, В. Л., Каштанов, М. Г., Ханфи, М. Ю. М. & Мохамед, Х. М. Х.
31/07/2014 → …
Проект: Исследование › КЦП

Цитировать

Islamov, D. R., Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Pustovarov, V. A., Orlov, O. M., Chernikova, A. G., Markeev, A. M., Slesazeck, S., Schroeder, U., Mikolajick, T., & Krasnikov, G. Y. (2019). Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf_0.5Zr_0.5O₂-based ferroelectric thin films. Acta Materialia, 166, 47-55. https://doi.org/10.1016/j.actamat.2018.12.008

Islamov, Damir R. ; Gritsenko, Vladimir A. ; Perevalov, Timofey V. ; Pustovarov, Vladimir A. ; Orlov, Oleg M. ; Chernikova, Anna G. ; Markeev, Andrey M. ; Slesazeck, Stefan ; Schroeder, Uwe ; Mikolajick, Thomas ; Krasnikov, Gennadiy Ya. / Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf_0.5Zr_0.5O₂-based ferroelectric thin films. В: Acta Materialia. 2019 ; Том 166. стр. 47-55.

@article{2b39133448ff4d9b9a3d1096fd0656ed,

title = "Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films",

keywords = "Defects, Ferroelectric HfZrO, Leakage currents, Luminescence, Oxygen vacancies, POLARIZATION REVERSAL, MECHANISM, Ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2, CHARGE-TRANSPORT, HAFNIUM",

author = "Islamov, {Damir R.} and Gritsenko, {Vladimir A.} and Perevalov, {Timofey V.} and Pustovarov, {Vladimir A.} and Orlov, {Oleg M.} and Chernikova, {Anna G.} and Markeev, {Andrey M.} and Stefan Slesazeck and Uwe Schroeder and Thomas Mikolajick and Krasnikov, {Gennadiy Ya}",

year = "2019",

month = mar,

day = "1",

doi = "10.1016/j.actamat.2018.12.008",

language = "English",

volume = "166",

pages = "47--55",

journal = "Acta Materialia",

issn = "1359-6454",

publisher = "Elsevier BV",

}

Islamov, DR, Gritsenko, VA, Perevalov, TV, Pustovarov, VA, Orlov, OM, Chernikova, AG, Markeev, AM, Slesazeck, S, Schroeder, U, Mikolajick, T & Krasnikov, GY 2019, 'Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf_0.5Zr_0.5O₂-based ferroelectric thin films', Acta Materialia, том. 166, стр. 47-55. https://doi.org/10.1016/j.actamat.2018.12.008

Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf_0.5Zr_0.5O₂-based ferroelectric thin films. / Islamov, Damir R.; Gritsenko, Vladimir A.; Perevalov, Timofey V.; Pustovarov, Vladimir A.; Orlov, Oleg M.; Chernikova, Anna G.; Markeev, Andrey M.; Slesazeck, Stefan; Schroeder, Uwe; Mikolajick, Thomas; Krasnikov, Gennadiy Ya.

В: Acta Materialia, Том 166, 01.03.2019, стр. 47-55.

Результат исследований: Вклад в журнал › Статья

TY - JOUR

T1 - Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films

AU - Islamov, Damir R.

AU - Gritsenko, Vladimir A.

AU - Perevalov, Timofey V.

AU - Pustovarov, Vladimir A.

AU - Orlov, Oleg M.

AU - Chernikova, Anna G.

AU - Markeev, Andrey M.

AU - Slesazeck, Stefan

AU - Schroeder, Uwe

AU - Mikolajick, Thomas

AU - Krasnikov, Gennadiy Ya

PY - 2019/3/1

Y1 - 2019/3/1

KW - Defects

KW - Ferroelectric HfZrO

KW - Leakage currents

KW - Luminescence

KW - Oxygen vacancies

KW - POLARIZATION REVERSAL

KW - MECHANISM

KW - Ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2

KW - CHARGE-TRANSPORT

KW - HAFNIUM

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85058713122&partnerID=8YFLogxK

UR - https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=tsmetrics&SrcApp=tsm_test&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=000459358200005

U2 - 10.1016/j.actamat.2018.12.008

DO - 10.1016/j.actamat.2018.12.008

M3 - Article

AN - SCOPUS:85058713122

VL - 166

SP - 47

EP - 55

JO - Acta Materialia

JF - Acta Materialia

SN - 1359-6454