Interference effects in the UV(VUV)-excited luminescence spectroscopy of thin dielectric films

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

4 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)509-514
Число страниц6
ЖурналJournal of Synchrotron Radiation
Том20
Номер выпуска3
DOI
СостояниеОпубликовано - мая 2013

Предметные области ASJC Scopus

  • Instrumentation
  • Nuclear and High Energy Physics
  • Radiation

Предметные области WoS

  • Инструменты и их применение
  • Оптика
  • Физика, Прикладная

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Interference effects in the UV(VUV)-excited luminescence spectroscopy of thin dielectric films». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать