Latent ion tracks in amorphous and radiation amorphized silicon nitride

Arno Janse van Vuuren, Anel D. Ibrayeva, Jacques H. O'Connell, Vladimir A. Skuratov, Alisher Mutali, Maxim V. Zdorovets

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)16-23
Число страниц8
ЖурналNuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
Том473
DOI
СостояниеОпубликовано - 15 июн 2020

Предметные области ASJC Scopus

  • Nuclear and High Energy Physics
  • Instrumentation

Предметные области WoS

  • Инструменты и их применение
  • Ядерные науки и технологии
  • Физика, Атомная, молекулярная и химическая
  • Физика, Ядерная

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Latent ion tracks in amorphous and radiation amorphized silicon nitride». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать