Latent ion tracks in amorphous and radiation amorphized silicon nitride

Arno Janse van Vuuren; Anel D. Ibrayeva; Jacques H. O'Connell; Vladimir A. Skuratov; Alisher Mutali; Maxim V. Zdorovets

doi:10.1016/j.nimb.2020.04.009

Latent ion tracks in amorphous and radiation amorphized silicon nitride

Arno Janse van Vuuren, Anel D. Ibrayeva, Jacques H. O'Connell, Vladimir A. Skuratov, Alisher Mutali, Maxim V. Zdorovets

Результат исследований: Вклад в журнал › Статья › рецензирование

Язык оригинала	Английский
Страницы (с-по)	16-23
Число страниц	8
Журнал	Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
Том	473
DOI	https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.04.009
Состояние	Опубликовано - 15 июн. 2020

Предметные области ASJC Scopus

Nuclear and High Energy Physics
Instrumentation

Предметные области WoS

Инструменты и их применение
Ядерные науки и технологии
Физика, Атомная, молекулярная и химическая
Физика, Ядерная

Ссылки

10.1016/j.nimb.2020.04.009

Другие файлы и ссылки

1 Активно

Научная группа «Лаборатория композитных материалов, пленок и покрытий»
Хлебников, Н. А., Обабков, И. Н., Лимановская, О. В., Иванов, М. Г., Обабков, Н. В., Закиров, И. Ф., Валиев, Р. М., Барашев, Н. Р., Поляков, Е. В., Красильников, В. Н., Борисов, С. В., Волков, И. В., Елшина, Л. А., Леонидов, И. И., Серков, К. В., Берестова, С. А., Митюшов, Е. А., Здоровец, М., Куклин, И. Э. & Жилин, А. С.
05/12/2013 → …
Проект: Исследование › Научная группа

Цитировать

@article{6eabc1ab37454bb5bfdf820cc4ba184a,

title = "Latent ion tracks in amorphous and radiation amorphized silicon nitride",

keywords = "Electron microscopy, Latent tracks, Radiation damage, Silicon nitride, Swift heavy ions",

author = "{Janse van Vuuren}, Arno and Ibrayeva, {Anel D.} and O'Connell, {Jacques H.} and Skuratov, {Vladimir A.} and Alisher Mutali and Zdorovets, {Maxim V.}",

year = "2020",

month = jun,

day = "15",

doi = "10.1016/j.nimb.2020.04.009",

language = "English",

volume = "473",

pages = "16--23",

journal = "Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms",

issn = "0168-583X",

publisher = "Elsevier BV",

}

Latent ion tracks in amorphous and radiation amorphized silicon nitride. / Janse van Vuuren, Arno; Ibrayeva, Anel D.; O'Connell, Jacques H.; Skuratov, Vladimir A.; Mutali, Alisher; Zdorovets, Maxim V.

В: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, Том 473, 15.06.2020, стр. 16-23.

Результат исследований: Вклад в журнал › Статья › рецензирование

TY - JOUR

T1 - Latent ion tracks in amorphous and radiation amorphized silicon nitride

AU - Janse van Vuuren, Arno

AU - Ibrayeva, Anel D.

AU - O'Connell, Jacques H.

AU - Skuratov, Vladimir A.

AU - Mutali, Alisher

AU - Zdorovets, Maxim V.

PY - 2020/6/15

Y1 - 2020/6/15

KW - Electron microscopy

KW - Latent tracks

KW - Radiation damage

KW - Silicon nitride

KW - Swift heavy ions

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85083254866&partnerID=8YFLogxK

UR - https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=tsmetrics&SrcApp=tsm_test&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=000530649500004

U2 - 10.1016/j.nimb.2020.04.009

DO - 10.1016/j.nimb.2020.04.009

M3 - Article

AN - SCOPUS:85083254866

VL - 473

SP - 16

EP - 23

JO - Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

JF - Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

SN - 0168-583X

ER -

Latent ion tracks in amorphous and radiation amorphized silicon nitride

Предметные области ASJC Scopus

Предметные области WoS

Ссылки

Другие файлы и ссылки

Fingerprint

Проекты

Научная группа «Лаборатория композитных материалов, пленок и покрытий»

Цитировать