Latent tracks of swift Bi ions in Si3N4

A. Janse Van Vuuren, A. Ibrayeva, R. A. Rymzhanov, A. Zhalmagambetova, J. H. O'Connell, V. A. Skuratov, V. V. Uglov, S. V. Zlotski, A. E. Volkov, M. Zdorovets

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

1 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Номер статьи025512
Число страниц8
ЖурналMaterials Research Express
Том7
Номер выпуска2
DOI
СостояниеОпубликовано - фев 2020

Предметные области ASJC Scopus

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Metals and Alloys
  • Surfaces, Coatings and Films
  • Polymers and Plastics
  • Biomaterials

Предметные области WoS

  • Материаловедение, Междисциплинарные труды

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Latent tracks of swift Bi ions in Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать