Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO2

D. A. Zatsepin; D. W. Boukhvalov; E. Z. Kurmaev; N. V. Gavrilov; S. S. Kim; I. S. Zhidkov

doi:10.1016/j.apsusc.2016.04.045

Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO₂

D. A. Zatsepin, D. W. Boukhvalov, E. Z. Kurmaev, N. V. Gavrilov, S. S. Kim, I. S. Zhidkov

Результат исследований: Вклад в журнал › Статья

Язык оригинала	Английский
Страницы (с-по)	223-229
Число страниц	7
Журнал	Applied Surface Science
Том	379
DOI	https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.04.045
Состояние	Опубликовано - 30 авг 2016

Предметные области ASJC Scopus

Surfaces, Coatings and Films

Предметные области WoS

Химия, Физическая
Материаловедение, Покрытия и пленки
Физика, Прикладная
Физика, Конденсированных сред

Ссылки

10.1016/j.apsusc.2016.04.045

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO<sub>2</sub>». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

1 Активно

Научная лаборатория «Ионно-пучковых и плазменных технологий для создания новых функциональных материалов и покрытий»
Чолах, С. О., Жидков, И. С., Кухаренко, А. И., Судовых, Н. И., Курмаев, Э. З., Коротин, Д. М., Скориков, Н. А., Комарский, А. А., Малкин, А. И., Жидкова, Н. Г., Черепанов, А. Н., Павличенко, Н. Ю., Овчинников, В. В., Медведев, А. И., Гусев, А. И., Шмелев, Д. Л., Никулин, С. П. & Соломонов, В. И.
04/01/2014 → …
Проект: Исследование › Научная лаборатория

Цитировать

@article{a28fbde13b48419397dbcf6d78512645,

title = "Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO2",

keywords = "Aggregation, Bismuth oxide, DFT, Ion implantation, Titanium dioxide",

author = "Zatsepin, {D. A.} and Boukhvalov, {D. W.} and Kurmaev, {E. Z.} and Gavrilov, {N. V.} and Kim, {S. S.} and Zhidkov, {I. S.}",

year = "2016",

month = aug,

day = "30",

doi = "10.1016/j.apsusc.2016.04.045",

language = "English",

volume = "379",

pages = "223--229",

journal = "Applied Surface Science",

issn = "0169-4332",

publisher = "Elsevier BV",

}

Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO₂. / Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.; Kim, S. S.; Zhidkov, I. S.

В: Applied Surface Science, Том 379, 30.08.2016, стр. 223-229.

Результат исследований: Вклад в журнал › Статья

TY - JOUR

T1 - Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO2

AU - Zatsepin, D. A.

AU - Boukhvalov, D. W.

AU - Kurmaev, E. Z.

AU - Gavrilov, N. V.

AU - Kim, S. S.

AU - Zhidkov, I. S.

PY - 2016/8/30

Y1 - 2016/8/30

KW - Aggregation

KW - Bismuth oxide

KW - DFT

KW - Ion implantation

KW - Titanium dioxide

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=84964330406&partnerID=8YFLogxK

UR - https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=tsmetrics&SrcApp=tsm_test&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=000376819300029

U2 - 10.1016/j.apsusc.2016.04.045

DO - 10.1016/j.apsusc.2016.04.045

M3 - Article

AN - SCOPUS:84964330406

VL - 379

SP - 223

EP - 229

JO - Applied Surface Science

JF - Applied Surface Science

SN - 0169-4332