Self-trapping of the d-d charge transfer exciton in bulk NiO evidenced by X-ray excited luminescence

V. I. Sokolov, V. A. Pustovarov, V. N. Churmanov, V. Yu Ivanov, N. B. Gruzdev, P. S. Sokolov, A. N. Baranov, A. S. Moskvin

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

4 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)528-533
Число страниц6
ЖурналJETP Letters
Том95
Номер выпуска10
DOI
СостояниеОпубликовано - июл 2012

Предметные области ASJC Scopus

  • Physics and Astronomy (miscellaneous)

Предметные области WoS

  • Физика, Многопрофильные области

ГРНТИ

  • 29.00.00 ФИЗИКА

Уровень публикации

  • Перечень ВАК

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Self-trapping of the d-d charge transfer exciton in bulk NiO evidenced by X-ray excited luminescence». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать