Size analysis of sub-resolution objects by Kerr microscopy

I. V. Soldatov, W. Jiang, S. G.E. Te Velthuis, A. Hoffmann, R. Schäfer

Результат исследований: Вклад в журналСтатьяНаучно-исследовательскаярецензирование

2 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Номер статьи262404
ЖурналApplied Physics Letters
Том112
Номер выпуска26
DOI
СостояниеОпубликовано - 25 июн 2018

Отпечаток

bubbles
microscopy
domain wall
microscopes
microstructure

Предметные области ASJC Scopus

  • Physics and Astronomy (miscellaneous)

Предметные области WoS

  • Физика, Прикладная

Цитировать

Soldatov, I. V., Jiang, W., Te Velthuis, S. G. E., Hoffmann, A., & Schäfer, R. (2018). Size analysis of sub-resolution objects by Kerr microscopy. Applied Physics Letters, 112(26), [262404]. https://doi.org/10.1063/1.5027539
Soldatov, I. V. ; Jiang, W. ; Te Velthuis, S. G.E. ; Hoffmann, A. ; Schäfer, R. / Size analysis of sub-resolution objects by Kerr microscopy. В: Applied Physics Letters. 2018 ; Том 112, № 26.
@article{057fb86be2514a079193cbc2553c2148,
title = "Size analysis of sub-resolution objects by Kerr microscopy",
author = "Soldatov, {I. V.} and W. Jiang and {Te Velthuis}, {S. G.E.} and A. Hoffmann and R. Sch{\"a}fer",
year = "2018",
month = "6",
day = "25",
doi = "10.1063/1.5027539",
language = "English",
volume = "112",
journal = "Applied Physics Letters",
issn = "0003-6951",
publisher = "American Institute of Physics Publising LLC",
number = "26",

}

Soldatov, IV, Jiang, W, Te Velthuis, SGE, Hoffmann, A & Schäfer, R 2018, 'Size analysis of sub-resolution objects by Kerr microscopy' Applied Physics Letters, том. 112, № 26, 262404. https://doi.org/10.1063/1.5027539

Size analysis of sub-resolution objects by Kerr microscopy. / Soldatov, I. V.; Jiang, W.; Te Velthuis, S. G.E.; Hoffmann, A.; Schäfer, R.

В: Applied Physics Letters, Том 112, № 26, 262404, 25.06.2018.

Результат исследований: Вклад в журналСтатьяНаучно-исследовательскаярецензирование

TY - JOUR

T1 - Size analysis of sub-resolution objects by Kerr microscopy

AU - Soldatov, I. V.

AU - Jiang, W.

AU - Te Velthuis, S. G.E.

AU - Hoffmann, A.

AU - Schäfer, R.

PY - 2018/6/25

Y1 - 2018/6/25

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85049301102&partnerID=8YFLogxK

UR - https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=tsmetrics&SrcApp=tsm_test&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=000436862600021

U2 - 10.1063/1.5027539

DO - 10.1063/1.5027539

M3 - Article

VL - 112

JO - Applied Physics Letters

JF - Applied Physics Letters

SN - 0003-6951

IS - 26

M1 - 262404

ER -

Soldatov IV, Jiang W, Te Velthuis SGE, Hoffmann A, Schäfer R. Size analysis of sub-resolution objects by Kerr microscopy. Applied Physics Letters. 2018 Июнь 25;112(26). 262404. https://doi.org/10.1063/1.5027539