Study of structural and electronic properties of a topological insulator Bi1.1Sb0.9Te2S

Y. E. Khatchenko, M. V. Yakushev, C. Seibel, M. Orlita, V. Golyashov, Y. S. Ponosov, A. V. Mudriy, K. A. Kokh, F. Reinert, O. E. Tereshchenko, T. V. Kuznetsova

Результат исследований: Глава в книге, отчете, сборнике статейМатериалы конференции

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииVII International Young Researchers'' Conference - Physics, Technology, Innovations, PTI 2020
РедакторыVladimir A. Volkovich, Ilya V. Kashin, Andrey A. Smirnov, Evgeniy D. Narkhov
ИздательAmerican Institute of Physics Inc.
ISBN (электронное издание)9780735440531
DOI
СостояниеОпубликовано - 9 дек 2020
Событие7th International Young Researchers'' Conference on Physics, Technology, Innovations, PTI 2020 - Ekaterinburg, Российская Федерация
Продолжительность: 18 мая 202022 мая 2020

Серия публикаций

НазваниеAIP Conference Proceedings
Том2313
ISSN (печатное издание)0094-243X
ISSN (электронное издание)1551-7616

Конференция

Конференция7th International Young Researchers'' Conference on Physics, Technology, Innovations, PTI 2020
СтранаРоссийская Федерация
ГородEkaterinburg
Период18/05/202022/05/2020

Предметные области ASJC Scopus

  • Physics and Astronomy(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Study of structural and electronic properties of a topological insulator Bi<sub>1.1</sub>Sb<sub>0.9</sub>Te<sub>2</sub>S». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать