Use of Full-Profile X-Ray Analysis for Estimation of the Dispersity of the Secondary Alpha Phase in High-Strength Titanium Alloys

Результат исследований: Вклад в журналСтатья

3 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)412-416
Число страниц5
ЖурналCrystallography Reports
Том65
Номер выпуска3
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 мая 2020

Предметные области ASJC Scopus

  • Condensed Matter Physics
  • Chemistry(all)
  • Materials Science(all)

Предметные области WoS

  • Кристаллография

ГРНТИ

  • 29.00.00 ФИЗИКА

Уровень публикации

  • Перечень ВАК

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Use of Full-Profile X-Ray Analysis for Estimation of the Dispersity of the Secondary Alpha Phase in High-Strength Titanium Alloys». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать