Общий поиск

Поиск результатов

• Self-trapping of the d-d charge transfer exciton in bulk NiO evidenced by X-ray excited luminescence

  Sokolov, V. I., Pustovarov, V. A., Churmanov, V. N., Ivanov, V. Y., Gruzdev, N. B., Sokolov, P. S., Baranov, A. N. & Moskvin, A. S., июл 2012, В : JETP Letters. 95, 10, стр. 528-533 6 стр.

  Результат исследований: Вклад в журнал › Статья

  • charge transfer
  • excitons
  • trapping
  • luminescence
  • x rays
  4 Цитирования (Scopus)