ПОЛЕВАЯ ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ГРАНИЧНОЙ ОБЛАСТИ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИНТЕРФЕЙСОВ

科研成果: Article同行评审

摘要

На основании результатов, полученных методом полевой ионной микроскопии, проведен анализ атомного строения граничной области металлических интерфейсов после интенсивных внешних воздействий. В результате изучения атомного строения планарных дефектов в металлических материалах после радиационного и других видов внешних воздействий методами полевой ионной микроскопии, атомного зонда полевого ионного микроскопа и томографического атомного зонда установлена различная ширина их граничной области. Показано, что ширина граничной области металлических интерфейсов изменяется в зависимости от типа интенсивного внешнего воздействия и составляет 0.8-1.5 nm. Приведены экспериментальные данные об элементном составе межфазных интерфейсов (Cu80Co20) в металлически сплавленных компаундах и легированных сплавах (Cu3Au (4 at.% Pt)).
源语言Russian
页(从-至)43-51
期刊Письма в Журнал технической физики
41
16
Published - 2015

GRNTI

  • 29.00.00 PHYSICS

Level of Research Output

  • VAK List

引用此